Marques, M. F. Ferreira
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Marques, M. F. Ferreira
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(Todas)
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| Data de publicação | Título | Autor(es) | Tipo | Acesso | |
|---|---|---|---|---|---|
| 1 | 1-Set-2008 | On the defect pattern evolution in sapphire irradiated by swift ions in a broad fluence range | Gordo, P. M. ; Liszkay, L. ; Kajcsos, Zs. ; Havancsák, K. ; Skuratov, V. A. ; Kögel, G. ; Sperr, P. ; Egger, W. ; Lima, A. P. de ; Marques, M. F. Ferreira | article | openAccess |
| 2 | 2007 | Positron annihilation and constant photocurrent method measurements on a-Si:H films: A comparative approach to defect identification | Gordo, P. M. ; Marques, M. F. Ferreira ; Gil, C. Lopes ; Lima, A. P. de ; Lavareda, G. ; Carvalho, C. Nunes de ; Amaral, A. ; Kajcsos, Zs. | article | openAccess |